HarmoniX是一种强大的新型AFM模式，首次为广泛的材料提供了粘附性、刚度、耗散、峰值力和平均力的真正纳米级定量材料属性映射。

与之前的任何技术不同，HarmoniX可以实时提供这些精确的属性映射，并具有TappingMode™成像中的高分辨率，与此同时，您还可以从Veeco SPM中获取您习惯的其他流行图像。这种技术是有效的表征软材料，薄膜，小颗粒或区域内的大块固体。

HarmoniX由Veeco与哈佛大学Rowland研究所的Ozgur Sahin合作开发，利用NanoScope®V控制器的全部功能和Veeco HarmoniX探头的先进设计，通过增强TappingMode中悬臂谐波的信噪比，将尖端的法向力与悬臂的扭转或“扭转”运动耦合起来。这种控制器速度、创新探头设计、专有软件和行业标准TappingMode的结合使HarmoniX技术成为可能，同时将变形深度限制在1nm以下。

只有Veeco HarmoniX纳米级材料属性映射提供完整的谐波频谱数据，可以将您的研究提升到新的发现水平。

欲了解更多信息，请访问www.veeco.com。